| 日時
2002年11月18日（月）13時−17時30分
会場
東京大学理学部化学本館５階講堂（東京都文京区）
趣旨
超微量の物質を取り扱い検出する技術がますます重要になってきています。
最近の進歩が著しいがこれまで統一的に取り上げられてこなかった、微小力を操作したり検出したりすることによる検出法についての研究会を企画しました。
プログラム | 13:00-13:05 | 趣旨説明 | | | 13:05-13:50 | 原子を観て、操り、測るアトムファクトリー
ー原子ワイヤーの強度を測るー | 筑波大・木塚徳志先生 | | 13:50-14:35 | 化学修飾ＡＦＭプローブを用いた化学力顕微鏡 | 東工大・藤平正道先生 | | 14:35-15:20 | ナノメートルスケールでのレーザートラッピングと分光分析 | NTT・味戸克裕先生 | | 15:20-15:35 | coffee break | | | 15:35-16:20 | マイクロ・ナノマシニングによる高感度センシング | 東北大・小野崇人先生 | | 16:20-17:05 | カンチレバーセンサーアレイシステム”セントリス”の製品概要とその応用例 | 日本ビーコ株式会社・出口匡先生 | | 17:05-17:15 | 包括的質問とclosing remark | |
参加費
分科会会員 ：無料
一般 ：3000円
予稿集不要の学生：無料
主催
応用物理学会
有機分子・バイオエレクトロニクス分科会
問い合わせ先
東大・理 島田敏宏（03-5841-7595）
shimada@chem.s.u-tokyo.ac.jp
東大・工 高村 禅（03-5841-7128）
takamura@micro.mm.t.u-tokyo.ac.jp
詳細は追って、本ページ上で公開して行きます。
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