協賛:日本物理学会、電気学会、電子情報通信学会、日本化学会、電気化学会、高分子学会
近年、有機半導体薄膜を用いた電子デバイスの展開が飛躍的に進んでおります。それに伴い有機半導体薄膜の分析・解析技術が、有機デバイスの基礎と応用の両面で重要な役割を担っています。そこで、M&BE分科会では、有機デバイスに共通する有機半導体薄膜に焦点を絞り、現在の分析機器を用いた解析手法、分析の原理、この分析を使えば有機半導体薄膜の何が分かるか、に関し詳細に議論する場として、本講習会を企画いたします。
日時: 2011年11月11日(金)
場所: (独)産業技術総合研究所 臨海副都心センター 別館11F 第一会議室
東京都江東区青海2-4-7
http://unit.aist.go.jp/waterfront/
◆プログラム
2011年11月11日(金曜日) |
10:30〜10:35 |
〜開会の挨拶〜 |
物質・材料研究機構
安田 剛 |
10:35〜11:15 |
赤外・ラマン分光法による有機半導体薄膜の構造解析 |
早稲田大学
古川行夫 |
11:15〜11:55 |
有機薄膜材料のX線による評価の基礎と応用 |
(株)リガク
稲葉克彦 |
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〜昼食〜 |
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13:00〜13:40 |
大気中光電子収量分光法を用いた仕事関数、イオン化ポテンシャル、電子状態密度の測定 |
理研計器(株)
中島嘉之 |
13:40〜14:20 |
接触・非接触電荷移動度測定法による多角的評価と有機材料中の電荷輸送最適化 |
大阪大学
関修平 |
14:20〜15:00 |
分光エリプソメトリーによる有機半導体薄膜の屈折率評価・分子配向評価 |
山形大学
横山大輔 |
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〜休憩〜 |
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15:20〜16:00 |
Electron Spin Resonance(ESR)法を用いた有機半導体薄膜デバイスのミクロ特性評価 |
筑波大学
丸本一弘 |
16:00〜16:40 |
インピーダンス分光による有機デバイスの電子物性評価 |
大阪府立大学
内藤裕義 |
16:40〜17:20 |
AFMポテンショメトリを用いた有機薄膜トランジスタ中のキャリア輸送解析 |
奈良先端科学技術大学院大学
中村雅一 |
17:20〜17:25 |
〜閉会の挨拶〜 |
産業技術総合研究所
谷垣宣孝 |
18:00〜20:00 |
懇親会 |
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◆参加費・テキスト代(消費税含む):
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一般 |
学生 |
M & BE分科会個人会員 |
6,000円 |
2,000円 |
応用物理学会・協賛学会個人会員 またはM&BE 分科会賛助会員 |
8,000円 |
3,000円 |
上記以外 |
10,000円 |
4,000円 |
*懇親会参加費:実費4,000 円/当日お支払い下さい.
◆定員: 140 名
◆参加申込方法:
事前申し込みは終了致しましたが、講習会当日の参加申し込みも受け付けます。
当日参加ご希望の方は、当日、受付にて参加費をお支払い下さい。
◆参加費振込先:
三井住友銀行 本店営業部(本店も可)
普通預金 3379632
(社)応用物理学会 有機分子・バイオエレクトロニクス分科会
(シャ)オウヨウブツリガッカイユウキブンシ・バイオエレクトロニクスブンカカイ
◆参加申込締切: 2011 年10 月31 日(金)
◆内容問合せ先:
安田剛(物質・材料研究機構)
E-mail: YASUDA.Takeshi@nims.go.jp
(又は下記世話人迄ご連絡下さい)
◆参加問合せ先:
〒113-0034 東京都文京区湯島2-31-22 湯島アーバンビル7階
応用物理学会 分科会担当
岡本晋一
Tel: 03-3238-1043
Fax: 03-3221-6245
E-mail: divisions@jsap.or.jp
◆講習会世話人:
安田剛(物質・材料研究機構)
谷垣宣孝(産業技術総合研究所)
近松真之(産業技術総合研究所)
三成剛生(物質・材料研究機構)
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