講演題目

HAXPESの現状と今後の展望

広島大学放射光科学研究センター
（独）日本原子力研究開発機構
高知工科大学
小林啓介

要旨

光電子分光法は、物質科学や分析科学にとって電子の占有状態を見るための重 要な手法であるが、きわめて表面敏感性が高く、実際には制限の大きな手法で あった。アンジュレーター放射光を使った硬X 線光電子分光法（HXPES または HAXPES）は2003 年に実用的な強度と分解能を持つことが実験的に示されて以来、 多用な応用がなされるようになってきた。今では、放射光利用の避けがたい不 便さが、これ以上のユ－ザ－利用の増加に対する強い制限になっている。JST 先 端分析技術・機器開発プロジェクトによって開発された単色化CrKα(5.4keV) 線を励起源とする実験室HXPES 装置（HEARP Lab）はビームラインにおけるHXPES に比べて分解能やスループットなどの性能はおとるものの、十分に実用的で、 利便性において勝ることが示された。そのバルク敏感性を生かした多用な応用 例が報告されている。ここでは硬X 線光電子分光法の物質/材料科学、デバイス 開発研究、分析科学などへの応用の現状を紹介し、さらにその将来を展望する。