応用物理学会　応用電子物性分科会主催
応用電子物性分科会 研究例会

顕微鏡技術・顕微分光技術の最前線

　局所的な構造や材料物性を評価するための顕微鏡技術・顕微分光技術は日々進歩しています。本例会では，材料評価やナノ構造評価に使われる顕微鏡技術・顕微分光技術に関して、第一線で活躍される研究者の皆様をお招きし、その最前線と今後の展望についてご講演頂きます．

開催日時：2016年 2月 1日（月）13:30 ～ 16:45　（開場 12:30）

場所：首都大学東京　秋葉原サテライトキャンパス
　　　（東京都千代田区外神田1-18-13 秋葉原ダイビル 12階）
　　　　http://www.tmu.ac.jp/university/campus_guide/access.html

演題：

13:00-13:05
　　応用電子物性分科会幹事長 挨拶

(1) 13:05-13:45
　「電子顕微鏡を用いた分析事例紹介」
　　山崎　亨　（MST）

(2) 13:45-14:25
　「環境制御電子顕微鏡を使った液中試料観察」
　　箕田　弘喜　（東京農工大学）

(3) 14:25-15:05
　「ナノデバイス向け形状計測AFM」
　　渡辺　正浩　（日立製作所）

　- 休憩（20分）-

(4) 15:25-16:05
　「SPMによる化学分析の新展開〜最近のAFM-IRおよびSNOM-IR計測技術〜」
　　叶　際平　（日産アーク）

(5) 16:05-16:45
　「金属ナノ粒子のプラズモン共鳴に伴う諸過程の観測」
　　立間　徹　（東京大学）

参加費（テキスト代・消費税込み）
　　　　　分科会会員：2,000円
　　　　　応用物理学会会員（非分科会会員）：5,500円
　　　　　一般：8,000円
　　　　　学生：1,000円

問合せ先：赤羽 浩一（NICT） E-mail: akahane＠nict.go.jp
　　　　　高橋 琢二（東京大） E-mail: takuji＠iis.u-tokyo.ac.jp
　　　　　安藤 正彦（日立）　E-mail: masahiko.ando.ph＠hitachi.com
　　（スパム対策のため，上の"＠"は全角になっています．半角の"@"に置き換えて下さい．）

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