20巻5号(1991年5月) 目次
巻 頭 言
ICO活動の変遷,そして日本光学会の課題
朝倉利光
薄膜堆積過程の光計測
解 説
高分解能後方散乱測定法
今井 洋
半導体レーザーの周波数変調特性を用いた干渉法
石井行弘
最近の技術から
液晶偏光干渉計を用いた分光画像計測
伊東一良
スペックル干渉計における液晶位相シフターの較正法
門野博史
多重マッチトフィルタを用いたハイブリッドパターン認識システム
亀丸俊一・清水 勲
非線形検出器を用いたジョイント変換型スペックル光相関計
萩原昭文・大坪順次
研 究
Optical Omplementetion of Logic Operations Using Photoinduced Anisotropy in Amorphous As2S3Thin Film
Seung Ho Shin・Sang Soo Lee・Chong Hoon Kwak
輻輳による距離知覚と大きさ知覚の比較
金子寛彦・内川惠二・池田光男
BSO単結晶のもつ偏光変換特性の解析とその空間光変調素子への応用
中川 清・梶田信之・登田 健・陳 靖・峯本 工
研究速報
ファジイ推論を利用した画像の平滑化
鈴木茂人・上杉正人
技術報告
干渉分光法による多層膜厚の解析的評価
深沢亮一・西沢誠治
さろん
1991年冬期視覚研究会参加報告
矢野 正
第16回モアレ・三次元計測研究会報告
新井泰彦
書 評
『光導波路解析』
橋本正弘
会よりのお知らせ