第73回研究集会詳細
第73回 研究集会詳細
日 時:2005年7月25日(月)9:50 - 17:30 (終了後,懇親会)
会場が変更となっていますのでご注意ください。
会 場:東京大学生産技術研究所 An棟2階 コンベンションホール
(〒153-8505 東京都目黒区駒場4-6-1
詳しくはhttp://www.iis.u-tokyo.ac.jp/をご覧ください.
生産技術研究所は,駒場リサーチキャンパス内にあります
教養学部のキャンパスとは異なります.webで場所をお確かめください)
生産技術研究所の「An棟」に入りエレベータで2階にお上がり下さい
An棟はweb上のキャンパス内配置図で白い数字で「6」と書かれている建物
です
最寄り駅:井の頭線 駒場東大前駅
小田急線 東北沢駅
小田急線・地下鉄千代田線 代々木上原駅
電話番号:03-5452-6264(平本研究室))
研究集会終了後、懇親会を開催します。
テーマ:最先端CMOS技術(VLSIシンポジウム特集)
担当:ULSIデバイス研究委員会
スコープ::6月開催のVLSIシンポジウムの最先端CMOS技術に関する話題から。
プログラム
9:50 はじめに
平本俊郎
東京大学生産技術研究所
10:00 Symposiumレビュー,
木村紳一郎,
日立製作所
10:30 Si(110)極薄SOI pMOSFETにおける高移動度の実証,
筒井元、齋藤真澄、平本俊郎
東京大学生産技術研究所
11:00 横方向歪み緩和を利用して作製した高駆動力一軸歪みSGOI p-MOSFETs,
入沢寿史*、沼田敏典*、手塚勉*、臼田宏治*、平下紀夫*、杉山直治*、豊田英二***、
高木信一**,****
*MIRAI-ASET, **MIRAI-AIST, ***東芝セラミックス,****東京大学
11:30 50nmゲート長不純物偏析ショットキー・ソース・ドレインMOSFETにおける
高速動作実証
木下敦寛
東芝研究開発センターLSI基盤技術ラボラトリー
12:00 昼食
13:00 応力コントロールによる移動度向上・不純物拡散抑制45nmノード用STI技術,
太田和伸、横山孝司、***川崎博久、守屋美夏、金井貞夫、高橋誠司、*佐貫朋也、
*蓮見良治、菰口達哉、十河康則、**高須靖夫、**江田健太郎、*大石周、*笠井邦弘、
大野圭一、*岩井正明、斎藤正樹、*松岡史倫、長島直樹、*野口達夫、岡本裕
ソニー セミコンダクターソリューションズネットワークカンパニー
セミコンダクタテクノロジー開発本部,
*東芝セミコンダクター社システムLSI第一事業部,
**東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター,
***東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター
13:30 STIがsub-50 nm n-MOSFET中のキャリア分布へ及ぼす影響の直接測定,
福留秀暢、籾山陽一*、田川幸雄*、久保智裕*、青山敬幸、有本宏*、奈良安雄,
富士通研究所、*富士通
14:00 ミリ秒アニールを用いた45 nm ノードCMOS向け極浅接合形成プロセスの
問題点と最適化,
安達甘奈, 大内和也, 青木伸俊, 辻井秀二, 伊藤貴之*, 糸川寛志*, 松尾浩司*,
須黒恭一*, 本宮佳典**, 玉置直樹**, 石丸一成, 石内秀美,
東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター,
*東芝セミコンダクター社プロセス技術推進センター,**東芝研究開発センター
14:30 HP CMOSに向けたフルシリサイドゲートの形成方法論,
保坂公彦,倉橋輝雄,川村和郎*,青山敬幸,三島康由,鈴木邦広,佐藤成生
富士通研究所,*富士通
15:00 休憩
15:10 Metal/HfO2 MISFETの電極側HfO2構造の電子移動度への影響,
赤坂泰志*、宮川一弘*、佐々木隆興*、白石賢二**,***、神山聡*、小川修*、大塚文雄*、
奈良安雄*
*半導体先端テクノロジーズ(Selete)、**筑波大学、***物質材料研究機構
15:40 HfSiONゲート絶縁膜と基板バイアス効果を用いる超低消費電力65nmノード
CMOS技術
君塚直彦、安田有里、岩本敏幸*、山本一郎、高野憲輔、秋山豊、今井清隆
NECエレクトロニクス・先端デバイス開発事業部、*NEC・システムデバイス研究所
16:10 CMOSラッチ回路におけるソフトエラーのレイアウト依存性と
65nmテクノロジノード以降のソフトエラーレートのスケーリングトレンド,
福井大伸,濱口雅史,吉村尚郎,親松尚人,松岡史倫,野口達夫,平尾敏雄*,
阿部浩之*,小野田忍*,山川猛*,若狭剛史*,神谷富裕*,
東芝セミコンダクター社、*日本原子力研究所
16:40 総合討論
17:30 懇親会