第10回結晶工学セミナー(2005) 開催日時： 2005年11月14日 開催テーマ：電気・光学測定技術の基礎と応用 コンテンツを読むためには会員のパスワードが必要です 開催概要 開催日時 2005年11月14日 会場 学習院創立百周年記念会館3F 小講堂 主催 公益社団法人応用物理学会 結晶工学分科会 巻頭言 電気的結晶評価の基礎−電気特性評価から得られる物理現象− 奥村 次徳 (首都大東京) へテロ界面の電気的特性評価 −MOS界面評価を中心として− 山部 紀久夫 (筑波大) 半導体結晶の光学的評価 −光学スペクトルから結晶を観る− 中山 正昭 (大阪市大) 光デバイスの信頼性評価技術 福田 光男 (豊橋技科大) 高精度半導体電気測定の実際 得納 幸史(アジレント・テクノロジー・インターナショナル) 高感度半導体光学測定の実際（赤外・ラマン分光等） 大久保 優晴 (日本分光)
