第11回結晶工学セミナー(2006) 開催日時： 2006年10月26日 開催テーマ：失敗しない分析技術の選び方 —物理･化学分析技術の基礎と応用— コンテンツを読むためには会員のパスワードが必要です 開催概要 開催日時 2006年10月26日 会場 学習院創立百周年記念会館3F 小講堂 主催 公益社団法人応用物理学会 結晶工学分科会 （はじめに）物理・化学分析技術と結晶材料の評価 小野 春彦 (NEC) TEMによる結晶の欠陥及び構造評価 酒井 朗 (名大) XPSによる薄膜・界面の分析 廣瀬 和之 (宇宙航空研究機構) SIMS,TOF-SIMSを用いた表面評価技術 ～失敗しない分析技術の選び方～ 永山 進 (ナノサイエンス) 結晶薄膜分析のためのX線応用技術 稲葉 克彦 (リガク) RBSによる薄膜分析 笹川 薫 (コベルコ科研) 走査プローブ顕微鏡による薄膜単結晶の評価 寺山 剛司 (日本ビーコ) 失敗しない分析技術チュートリアル ～半導体レーザを例に～ 近藤 康洋 (NTT)，五明 明子 (NEC)
