第13回結晶工学セミナー(2008) 開催日時： 2008年11月05日 開催テーマ：失敗しない分析技術の選び方 —物理･化学分析技術の基礎と応用— コンテンツを読むためには会員のパスワードが必要です 開催概要 開催日時 2008年11月05日 会場 学習院創立百周年記念会館3F 小講堂 主催 公益社団法人応用物理学会 結晶工学分科会 (はじめに) 物理・化学分析技術と結晶材料の評価 近藤 康洋 (NTTフォトニクス研) TEMによる結晶の欠陥及び構造評価 酒井 朗 (阪大基礎工) 分析TEMによる微小領域分析 杉山 直之 (東レリサーチセ) SIMSによる半導体材料の高感度分析 永山 進 (ナノサイエンス) XRDやXRRを用いた薄膜分析 斎藤 啓介 (ブルカーAXS) RBSによる薄膜分析 小林 明 (神戸製鋼) AES、XPS、TOF-SIMSを用いた表面評価 鈴木 峰晴 (アルバック・ファイ) 失敗しない分析技術チュートリアル ～ワイドバンドギャップ半導体を例に～ 土屋 忠厳 (日立電線)
