第14回結晶工学セミナー(2009) 開催日時： 2009年11月11日 開催テーマ：電気・光学測定技術の基礎と応用 コンテンツを読むためには会員のパスワードが必要です 開催概要 開催日時 2009年11月11日 会場 機械振興会館6階 66会議室 主催 公益社団法人応用物理学会 結晶工学分科会 電気的結晶評価の基礎 ～電気特性評価から得られる物理現象～ 奥村 次徳 (首都大学東京) 過渡容量法によるSiC中の深い準位の評価 ～DLTSを中心にして～ 木本 恒暢 (京大) 走査型プローブ顕微鏡による微小領域電気特性マッピング 藤田 高弥 (東レリサーチセ) 光学的結晶評価の基礎と応用 ～フォトルミネッセンスを中心にして～ ～不純物濃度・組成評価～ 山口 敦史 (金工大) 電子線を用いた半導体材料の電気的・光学的機能評価 ‐EBIC・カソードルミネッセンス‐ 関口 隆史 (物材機構) 近接場光学顕微イメージング分光による半導体量子構造評価 斎木 敏治 (慶応大)
