第16回結晶工学セミナー(2011) 開催日時： 2011年10月14日 開催テーマ：電気・光学測定技術の基礎と応用 —ワイドギャップ半導体を中心に— コンテンツを読むためには会員のパスワードが必要です 開催概要 開催日時 2011年10月14日 会場 学習院創立百周年記念会館3階 小講堂 主催 公益社団法人応用物理学会 結晶工学分科会 電気的結晶評価の基礎 ～電気特性評価から読み解くべき物理～ 奥村 次徳 (首都大学東京) アドミタンス測定によるMIS界面電子準位の評価 ～窒化物半導体界面への適用と解釈～ 橋詰 保 (北海道大) 光学的結晶評価の基礎 ～フォトルミネッセンスによる不純物定量と欠陥解析～ 田島 道夫（JAXA 宇宙科学研究所） 近接場光学顕微鏡による半導体結晶の再結合ダイナミクス ～窒化物半導体混晶の不均一性と発光・非発光機構～ 川上 養一 (京都大学) カソードルミネッセンスによる微細領域の評価 ～窒化物半導体の転位・組成・歪みの評価～ 三宅 秀人 (三重大学) ワイドギャップ半導体の電気・光学評価事例 ～GaNおよびSiCについての事例紹介～ 須田 淳 (京都大学)
