第17回結晶工学セミナー(2012) 開催日時： 2012年12月05日 開催テーマ：物理・化学分析の最先端技術を基礎から理解する —グリーンデバイス材料を中心に— コンテンツを読むためには会員のパスワードが必要です 開催概要 開催日時 2012年12月05日 会場 学習院創立百周年記念会館3階 小講堂 主催 公益社団法人応用物理学会 結晶工学分科会 FIBを用いたTEM/SEM試料作製の基礎 今野 充 (日立ハイテク) FE-TEMを用いた観察・分析 遠藤 徳明 (日本電子) EBSD法による微小領域の結晶方位/歪解析 鈴木 清一(ＴＳＬソリューションズ) 太陽電池の分析・評価と技術的課題 ～不純物濃度・組成評価～ 須田 泰市(東レリサーチセンター) SPMを用いた太陽電池材料の多角的評価 高橋 琢二 (東京大学) 放射光を用いた太陽電池用半導体材料の評価技術 大下 祥雄 (豊田工業大学) 4H-SiC エピタキシャル膜の結晶欠陥の評価 土田 秀一 (電力中央研究所) 硬Ｘ線光電子分光技術とSiC評価の適応事例 町田 雅武 (ＶＧシエンタ)
