第19回結晶工学セミナー(2014) 開催日時： 2014年12月12日 開催テーマ：いまさら聞けない物理・化学分析技術の基礎と応用 —自分の測定データに自信を持てますか？— コンテンツを読むためには会員のパスワードが必要です 開催概要 開催日時 2014年12月12日 会場 学習院創立百周年記念会館3階 小講堂 主催 公益社団法人応用物理学会 結晶工学分科会 SEMの基礎および最新応用技術の紹介 多持 隆一郎（日立ハイテクノロジーズ） 初心者のための透過型電子顕微鏡を用いた像観察、分析の基礎と応用 伊野家 浩司（日本エフイー・アイ） SIMS、TOF-SIMSによる微量不純物の深さ方向分析 須田 泰市（東レリサーチセンター） X線回折・散乱を用いた半導体材料評価の基礎と応用 ～ロッキングカーブ、極点図、反射率の測定原理と分析事例～ 草野 修治（スペクトリス） (NEC) 顕微ラマン分光法の最新応用と測定の実際 沼田 朋子（堀場製作所） 分子線エピタキシィ成長中での走査型トンネル顕微鏡観察 塚本 史郎（阿南高専） XPSが明らかにする極薄SiO2/Si界面のダイポール、構造遷移層、 電荷トラップ、誘電率 廣瀬 和之（JAXA）
