23巻3号（1994年3月）　目次

巻 頭 言

光計測とその環境

吉田庄一郎

解　説

高精度測距技術

松本弘一

機械加工のためのインプロセス計測技術

河野嗣男

最近の技術から

天体スペックル分光法

馬場直志・桑村　進

天体補償光学用可変形鏡

高遠徳尚

自己励起型位相共役鏡の応答速度

本多徳行

オンマシン計測用ゾーンプレート干渉計

野村　俊

光スキッド粗さ測定法

安達正明

表面プラズモン共鳴によって薄膜に生じる放射圧の解析

杉浦忠男・河田　聡

FiveMirror System Derived from the Numerical Solutions of All Zero 3rd-OrderAberrations and 5th-Order Spherical Aberration for Deep-UltravioletOptical Lithography

DongHee Lee・Hong Jin Kong・Sang Soo Lee

反復法を用いたフーリエ振幅からの複素物体の回復

高城洋明・高橋　徹

研究速報

光学活性と磁気光学特性を有するプラスチックによる偏光方向維持型光アイソレータの検討

塚本　亨・武藤真三・二瓶栄輔・小池康博

平成5年度日本光学会関西講演会参加報告

中川　清

平成5年度日本光学会北陸講演会参加報告

菊田久雄

平成5年度光学名古屋講演会参加報告

原　豊

会よりのお知らせ