基礎講座:表面・界面分析の原点回帰と進化 ~ 最先端技術を正しく使いこなすための理論と実践 ~※学生参加費が無料

第55回 薄膜・表面物理 基礎講座(2026)

協賛学会(予定)

日本表面真空学会,日本顕微鏡学会,ナノ学会,日本化学会,日本材料学会,電気化学会,日本分析化学会,日本分光学会,日本質量分析学会,日本放射光学会,日本物理学会,日本セラミックス協会,計測自動制御学会,表面分析研究会,研究基盤協議会

開催趣旨

日本において表面分析技術の開発・応用が本格化してから,およそ60年が経過しました.この間,材料研究・開発の高度化に伴い,表面・界面科学が扱う対象は飛躍的に広がり,多種多様な分析機器が普及するとともに,革新的な新手法の開発も目覚ましく進展しております.一方で,複雑化した表面・界面の性質を適切に評価するためには,個々の測定機器の特性を正しく把握し,目的に応じて最適な手法を選択する力が不可欠です.本年度の基礎講座では,表面・界面分析における「原点」となる基本原理を再整理するとともに,近年進展が著しい高度な解析プロセス,および最新の装置動向と活用のポイントを体系的に解説し,多くの研究者,技術者の方々の表面・界面評価の質をさらに高めることを目指します .

詳細 pdf: 第55回薄膜・表面物理 基礎講座.pdf

日時:

2026年11月12日(木) 9:45 – 17:20

場所:

(株)島津製作所 Shimadzu Tokyo Innovation Plaza (対面開催)

1.プログラム:

(敬称略)

  
時間講演テーマ(仮)講師
09:45-9:50開会  
  
9:50-10:35日本の表面分析技術の歩み-約60年にわたる技術開発-尾張 真
(東京大学)
10:35-11:15高度化された表面・界面の構造解析における表面分析機器の役割橋本 哲
(JFEテクノ)
11:15-11:55先端計測機器硬X線光電子分光法(HXPESの実体,役割)上田 茂典
(NIMS)
11:55-13:10休憩
13:10-13:50低エネルギー逆光電子分光~何が分かるのか,原理・応用~吉田 弘幸
(千葉大学)
13:50-14:30大気圧光電子分光法の現状と応用
松田 巌
(東京大学)
14:30-15:10二次イオン質量分析~技術はどこまで進んでいるか~
二宮 啓
(山梨大学)
15:10-15:25休憩
15:25-16:05先進的な走査電子顕微鏡の表面・界面評価における役割Dirk van der Wal
(TESCAN GROUP)
16:05-16:45測定データの利活用に向けて-データ形式の標準化-
一村 信吾
(AIST)
16:45閉会
16:45-17:20(株)島津製作所 Tokyo Innovation Plaza 見学(希望者:定員48名、申込順)
  
  

2.参加費:

薄膜・表面物理分科会会員 *応用物理学会会員 **
協賛学会会員・ 協賛分科会会員
学生その他
10,000円15,000円無料25,000円

テキスト代, 消費税を含む

* 薄膜・表面物理分科会賛助会社の方は分科会会員扱いといたします.
** 応用物理学会賛助会社の方は応用物理学会会員扱いといたします.

現在非会員の方でも,参加登録時に薄膜・表面物理分科会(年会費正会員:2,200円(学生・院生:500円), 準会員:3,000円(学生・院生:500円))にご入会いただければ,本セミナーより会員扱いとさせていただきます 。

下記 URL https://www.jsap.or.jp/ より入会登録を行い, 会費支払及び仮会員番号を取得後,本基礎講座にお申込み下さい.(年会費を基礎講座参加費と同時にお振込なさらないで下さい.)

3.参加申込期間:

2026年10月1日(木) ~ 11月5日(木)

4.参加申込方法:

下記URLからイベントペイのサイトにアクセスし,参加登録してください.

https://eventpay.jp/event_info?shop_code=1804158131583761&EventCode=C824791558

コンビニ支払い,ペイジー決済可.原則として,参加費の払い戻し,請求書の発行はできません.領収書は申し込みサイトからダウンロード可能です.

5.参加費支払期限:

2026年11月5日(木)

6.企画に関する問合せ先:

東京農工大 飯島善時 yiijimamot@gmail.com

奈良先端大 武田さくら sakura@ms.naist.jp

7.参加登録問合せ先:

応用物理学会事務局 分科会担当 岡本 普一
TEL: 03-3828-7723
E-Mail: divisions@jsap.or.jp

更新:2026/10/7