No.144 (2012年3月)
結晶表面・界面の観察と制御
巻頭言
ターニングポイントを迎えている薄膜表面分科会
山崎 聡
研究
収差補正STEMによる界面・表面構造解析
幾原 雄一
半導体界面の電気特性を支配する物理現象
奥村 次徳
FT-IR による表面化学構造解析
高萩 隆行
最新技術情報
原子間力顕微鏡を用いた室温元素識別・原子操作
森田 清三
談話室
研究室紹介
神谷 利夫
Brush up English
科学英語一言メモ:自信がありそうでなさそうなshould と潜在能力のcan
山下 理恵