No.147 (2013年9月)
放射光を用いた構造・電子状態解析の最前線
巻頭言
国際化いろいろ
長谷川 修司
研究
HAXPES による燃料電池材料、半導体材料、酸化物薄膜の電子状態解析
尾嶋 正治
HAXPES 手法と応用－現状BL47XU/Spring-8 光学、装置性能および深さ分析－
池永 英司
HAXPES の実用表面分析への応用－「より内部」や「埋もれた界面」の非破壊検査－
小川 慎吾
HAXPES の現状と今後の展望
小林 啓介
XAFSの現状と今後の進展
野村 昌治
触媒などの固体試料における適切なXAFS 分析評価の実際
国須 正洋
XAFSによるリチウムイオン二次電池動作解析
内本 喜晴
時空間分解XAFS の排ガス触媒・電池材料解析への応用
稲田 康宏
XAFSを用いた固体酸化物形燃料電池材料・反応のin situ 解析
雨澤 浩史
軟X 線波長分散XAFS 法による表面化学反応リアルタイム追跡
雨宮 健太
談話室
研究室紹介
山部 紀久夫