「極薄シリコン酸化膜の形成・評価・信頼性」
1998年1月23～1月24日、NTT御殿場研修センター（静岡県御殿場市)

「化合物半導体の表面・界面制御とデバイス作製への応用」

日時：1998年7月21～22日
場所：早稲田大学国際会議場

1998年5月28～29日、京大会館

「薄膜の界面構造/組成および物性評価技術」

日時：1998年11月16～17日

場所：東京工業大学国際交流会館