第21回「イオンビームによる表面・界面の解析と改質」特別研究会
第21回「イオンビームによる表面・界面の解析と改質」特別研究会のご案内
| 共催： | 応用物理学会・薄膜表面物理分科会 |
| 京都大学大学院工学研究科 附属量子理工学教育研究センター | |
| 協賛： | 日本表面真空学会、日本物理学会 |
標記の研究会は、以前「イオンビームによる表面・界面解析」という名称でしたが、より広い分野をカバーするため、名称を変更しました。下記の通り開催致しますので、多数の方々のご発表とご参加をお願いしたく、ご案内申し上げます。
日時
2020年12月4日（金）13:00－5日（土）15:00
場所（現地会場とオンラインのハイブリッド形式）
現地会場：京都大学宇治キャンパス 総合研究実験1号棟4階 HW401
〒611-0011 京都府宇治市五ヶ庄
内容
低・中・高エネルギーイオン散乱による固体表面・界面の分析、およびイオンビームと固体表面との相互作用。 招待講演：３件、一般講演：１０数件程度。
招待講演として，
・水田 博 先生（北陸先端科学技術大学院大学）
「集束ヘリウムイオンビームによるグラフェンのシングルナノメータ加工と機能デバイス応用」
・石原 達己 先生（九州大学）
「低エネルギーイオン散乱分光装置を用いる触媒材料の最外表面分析」
・雨倉 宏 先生（物質・材料研究機構）
「MeV C60イオンビーム照射によるナノ粒子の楕円変形」
プログラム
Oral: 15 min. talk and 10 min. discussion
Friday, December 4, 13:00−18:00
| 13:00 | Opening | |
| 13:00-13:05 | Opening remarks | TSUCHIDA Hidetsugu (Kyoto University) |
| Session 1 | Chair: SEKI Toshio (Kyoto University) | |
| 13:05-13:45 | Invited 1 | MIZUTA Hiroshi Japan Advanced Institute of Science and Technolog |
| Single-nanometer graphene patterning using focused helium ion beam and its application for advanced functional devices | ||
| 13:45-14:25 | Invited 2 | ISHIHARA Tatsumi Kyushu University |
| Outermost surface analysis of catalyst by low energy ion scattering | ||
| 14:25-14:50 | Oral 1 | FUKUTA Hiroaki Osaka Prefecture University |
| Surface atomic structure of cleaved CaF2(111) analyzed using low energy atom scattering spectroscopy | ||
| 14:50-15:15 | Oral 2 | SUZUKI Taku National Institute for Materials Science |
| He+ LEIS analysis combined with pulsed jet technique of ethanol sensing by a ZnO surface | 15:15-15:30 | Break |
| Session 2 | Chair: TSUCHIYA Bun (Meijo University) | |
| 15:30-16:10 | Invited 3 | AMEKURA Hiroshi National Institute for Materials Science |
| Shape elongation of metal nanoparticles embedded in solid matrix induced with MeV C60 cluster ion irradiation | ||
| 16:10-16:35 | Oral 3 | HOSHINO Yasushi Kanagawa University |
| Crystallization of thin amorphous Si layer by electron or ion beam irradiation: effect of electronic energy deposition | ||
| 16:35-17:00 | Oral 4 | TOMITA Shigeo University of Tsukuba |
| The threshold foil thickness for the disappearance of the vicinage effect on the convoy-electron yield | ||
| 17:00-17:15 | Break | |
| Session for Sponsors | Chair: NAKAJIMA Kaoru (Kyoto University) | |
| 17:15-17:45 | Presentation 1 | Hakuto Co., Ltd. |
| Presentation 2 | ADCAP Vacuum Technology Co., Ltd. | |
| Presentation 3 | Ion Technology Center Co., Ltd. | |
Saturday, December 5, 9:00−15:00
| Session 3 | Chair: TSUCHIDA Hidetsugu (Kyoto University) | |
| 9:00-9:25 | Oral 5 | MORIBAYASHI Kengo National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST) |
| Plasma formed by track potential and transport of secondary electrons in heavy ion irradiation on surfaces | ||
| 9:25-9:50 | Oral 6 | KANEKO Toshiaki Okayama University of Science |
| Kinetic emission of secondary electrons from carbon foil by swift ions — A consideration on Polya distribution — | ||
| 9:50-10:15 | Oral 7 | NARUMI Kazumasa National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST, Takasaki) |
| Measurement of Au sputtering yields by C60-ion bombardment | ||
| 10:15-10:40 | Oral 8 | OISHI Naoto Kochi University of Technology |
| Energy dependence of nanostructure formation by fast C60 cluster ion beam on Si | ||
| 10:40-10:55 | Break | |
| Session 4 | Chair: MAJIMA Takuya (Kyoto University) | |
| 10:55-11:20 | Oral 9 | KATO Ryo Meijo University |
| In-situ hydrogen analysis in lithium-cobalt oxides by water uptake at room temperature using air-elastic recoil detection | ||
| 11:20-11:45 | Oral 10 | SEKI Toshio Kyoto University |
| MeV-SIMS measurement of electrolyte dissolved lithium compound at atmospheric pressure | ||
| 11:45-12:10 | Oral 11 | USAMI Taiki Meijo University |
| In-situ direct measurement of lithium transfer at interface between LiCoO2 positive electrode and LATP solid electrolyte by ion-beam analysis | ||
| 12:10-13:15 | Lunch | |
| Session 5 | Chair: MATSUO Jiro (Kyoto University) | |
| 13:15-13:40 | Oral 12 | IKEDA Tokihiro RIKEN Nishina Center |
| Applications of MeV-ion microbeams produced by tapered glass capillary optics | ||
| 13:40-14:05 | Oral 13 | SUZUKI Kohtaku The Wakasa Wan Energy Research Center |
| Liquid analysis using in-air ERDA/RBS system at WERC | ||
| 14:05-14:30 | Oral 14 | MIZUNAMI Yuki Kyoto University |
| Study on reaction processes of secondary negative ions ejected from methanol droplets by fast heavy ion collisions | ||
| 14:30-14:55 | Oral 15 | NAKAJIMA Kaoru Kyoto University |
| Surface analysis of ionic liquid solutions of alkali metal salts by high-resolution RBS and ERDA | ||
| 14:55-15:00 | Closing remarks | SUZUKI Taku (National Institute for Materials Science) |
| 15:00 | Closing | |
言語
日本語（英語も可（スライドは英語））
講演における注意事項：スライドの保存や配布、講演の録画や録音は厳禁です。
オンラインで参加される方へのお願い：講演中はマイク「ミュート」、ビデオ「オフ」にして下さい。
質疑の際は、マイク「オン」、ビデオ「オン」にして、お名前とご所属を言ってから質問内容をお話し下さい。
懇親会
実施しません。
定員
１００名
参加費
応用物理学会 薄膜・表面物理分科会会員 1,000円
協賛団体会員 2,000円， 一般 3,000円， 学生 無料， 招待講演者 無料
講演申込み締め切り：10月30日（金）
一般講演を申し込まれる場合は、学会HPのサイト（後日開設予定）よりお申し込み頂きます。
A4で１頁のアブストラクト（英文）を提出して頂きます。
参加申込み締め切り：11月16日（月）
参加登録ページ
https://www.t.kyoto-u.ac.jp/fs/qsec/ionbeam/2020/registration
アブスト提出ページ
https://www.t.kyoto-u.ac.jp/fs/qsec/ionbeam/2020/abstractsubmission
世話人：土田秀次（京都大学大学院工学研究科）
連絡先：〒611-0011 京都府宇治市五ヶ庄
京都大学工学研究科附属量子理工学教育研究センター 土田秀次
E-mail: tsuchida@nucleng.kyoto-u.ac.jp, Tel: 0774-38-3974
宿泊施設の確保は各自でお願いします．
アクセス
京都駅からJR奈良線の各駅停車に乗車し、JR黄檗（おうばく）駅降車 徒歩5分 。(所要時間:35分、240円)
アクセスマップ http://www.uji.kyoto-u.ac.jp/campus/access.html
宇治キャンパスマップ http://www.uji.kyoto-u.ac.jp/campus/map.html
もご覧ください．
更新：2020/9/24