2009年3月6日(金) 13:30-17:00

第110回 研究集会

開催場所

学習院大学 南2号館200教室

(〒171-8577 東京都豊島区目白1-5-1 JR山手線目白駅 徒歩3分) http://www.gakushuin.ac.jp/mejiro.html
テーマ シリコン単結晶ウェーハ製造におけるプロセス技術および評価のイノベーション
参加費 通常分科会員 2000 円,非分科会員 4000 円。

プログラム

①先端半導体デバイスに要求される基板(仮) ㈱ルネサステクノロジ 松川 和人 (13:30~14:00)

②Siウェーハの研磨・洗浄 ㈱フジミインコーポレーテッド 森永 均 (14:00~14:30)

③研磨・アニール技術を用いたSi 表面の平坦化 コバレントマテリアル㈱ 磯貝 宏道 (14:30~15:00)

(休憩 20分)

④DSB(Direct Silicon Bonding)の界面構造 大阪大 酒井 朗 (15:20~15:50)

⑤DSB基板の接合界面におけるゲッタリング(仮) 岡山県大 仮屋崎 弘昭 (15:50~16:20)

⑥Si 中での不純物拡散の対拡散モデル 吉田 正幸 (16:20~17:00)

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