2009年3月6日(金) 13:30-17:00
第110回 研究集会
テーマ | シリコン単結晶ウェーハ製造におけるプロセス技術および評価のイノベーション |
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参加費 | 通常分科会員 2000 円,非分科会員 4000 円。 |
プログラム
①先端半導体デバイスに要求される基板(仮) ㈱ルネサステクノロジ 松川 和人 (13:30~14:00)
②Siウェーハの研磨・洗浄 ㈱フジミインコーポレーテッド 森永 均 (14:00~14:30)
③研磨・アニール技術を用いたSi 表面の平坦化 コバレントマテリアル㈱ 磯貝 宏道 (14:30~15:00)
(休憩 20分)
④DSB(Direct Silicon Bonding)の界面構造 大阪大 酒井 朗 (15:20~15:50)
⑤DSB基板の接合界面におけるゲッタリング(仮) 岡山県大 仮屋崎 弘昭 (15:50~16:20)
⑥Si 中での不純物拡散の対拡散モデル 吉田 正幸 (16:20~17:00)