2001年7月27日(金) 13:00-17:00
第29回 研究集会
工業の現場ではKrF技術,そしてArF技術の準備が進められているが、その次に来る リソグラフィ技術について、現在提案されている各種技術の現状と将来展望を紹介して 頂き、今後の動向を探る。
テーマ | 100nm以降のリソグラフィ技術 |
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オーガナイザー | ASET/EUV研究室 岡崎信次 |
プログラム
13:00-13:10 はじめに
岡崎信次氏(ASET)
13:10-13:40 VUV領域までのフォトマスクの開発状況
毛利 弘(大日本印刷)
13:40-14:10 F2リソグラフィ用レジストの研究開発状況
鳥海 実氏(Selete)
14:10-14:40 第二世代PXL技術
丸本健二氏(三菱)
14:40-15:00 休憩
15:00-15:30 EPL技術の開発状況
平柳徳行氏(ニコン)
15:30-16:00 電子ビーム直接描画技術の研究動向
早田康成氏(日立)
16:00-16:30 低加速電子ビーム近接転写技術LEEPL
島津信生氏(リープル)
16:30-17:00 EUVリソグラフィ技術の研究開発状況
星野栄一氏(ASET)
17:15-18:30 懇親会