2001年7月27日(金) 13:00-17:00

第29回 研究集会

工業の現場ではKrF技術,そしてArF技術の準備が進められているが、その次に来る リソグラフィ技術について、現在提案されている各種技術の現状と将来展望を紹介して 頂き、今後の動向を探る。

開催場所

東京農工大学 工学部 合同棟11号館 多目的会議室

最寄駅:東小金井 徒歩10分 https://annex.jsap.or.jp/silicon/shousai/mapserv.gif
テーマ 100nm以降のリソグラフィ技術
オーガナイザー ASET/EUV研究室 岡崎信次

プログラム

13:00-13:10  はじめに
岡崎信次氏(ASET)

13:10-13:40  VUV領域までのフォトマスクの開発状況
毛利 弘(大日本印刷)

13:40-14:10  F2リソグラフィ用レジストの研究開発状況
鳥海 実氏(Selete)

14:10-14:40  第二世代PXL技術
丸本健二氏(三菱)

14:40-15:00  休憩

15:00-15:30  EPL技術の開発状況
平柳徳行氏(ニコン)

15:30-16:00  電子ビーム直接描画技術の研究動向
早田康成氏(日立)

16:00-16:30  低加速電子ビーム近接転写技術LEEPL
島津信生氏(リープル)

16:30-17:00  EUVリソグラフィ技術の研究開発状況
星野栄一氏(ASET)

17:15-18:30  懇親会

このページの上部へ