2007年7月6日（金） 9:55-16:10
第94回 研究集会
開催場所
機械振興会館 ６階 ６６会議室
（〒105-0011 東京都港区芝公園3-5-8 地下鉄神谷町下車徒歩10分） http://www.jcmanet.or.jp/gaiyo/map_kaikan.htm| テーマ | 統計的ばらつきを考慮したＴＣＡＤへ向けて |
|---|---|
| 参加費 | 分科会員 2000円、非分科会員 4000円 |
| オーガナイザー | 小田中紳二 羽根正巳 大倉康幸 |
プログラム
座長 羽根（ＮＥＣ）
9:55-10:00 モデリング研究委員会から 小田中紳二（阪大）
10:00-10:40 デバイス・プロセスからのばらつき解析とロバストトランジスタ技術
最上 徹1、西田 彰男1 、平本 俊郎1,2（1：半導体先端テクノロジーズ・2：東京大学）
10:40-11:30 デバイス特性ばらつきにおける物理的ゆらぎと統計的ばらつき
佐野 伸行1 、小田中 紳二2 （1：筑波大学 2：大阪大学）
昼食
座長 広木（京都工繊大学）
13:00-13:40 ＳＲＡＭ回路における3次元シミュレーション技術とばらつき解析
田辺 亮 、芦澤 芳夫 、岡 秀樹 (富士通研究所)
13:40-14:30 ＳＲＡＭセル設計に対するトランジスタ特性ばらつきの影響について
塚本康正、新居浩二、薮内誠、大林茂樹、永久克己、谷沢元昭、石川清志、牧野博之、篠原尋史、石橋孝一郎、井上康朗 （ルネサス）
休憩
座長 松澤（東芝）
14:50-15:30 特性ばらつきを考慮したＬＳＩ設計とＴＣＡＤへの要望
熊代 成孝 （ＮＥＣエレクトロニクス）
15:30-16:10 ばらつきの統計的ＴＣＡＤ
増田 弘生 （ルネサス）